高低溫濕熱測試箱設(shè)備滿足的標準說明
發(fā)布日期：2015-12-08 點擊：3087
高低溫濕熱測試箱適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元氣件在高低溫或濕熱環(huán)境下、檢驗其各項性能指標。
高低溫濕熱測試箱箱體結(jié)構(gòu)
高低溫濕熱測試箱箱體采用數(shù)控機床加工成型，造型美觀大方，并采用無反作用把手，操作簡便。
箱體內(nèi)膽采用進口不銹鋼（SUS304）鏡面板，箱體外膽采用A3鋼板噴塑，增加了外觀質(zhì)感和潔凈度。
補水箱置于控制箱體右下部，并有缺水自動保護，更便利操作者補充水源。
大型觀測視窗附照明燈保持箱內(nèi)明亮，且利用發(fā)熱體內(nèi)嵌式鋼化玻璃，隨時清晰的觀測箱內(nèi)狀況。
加濕系統(tǒng)管路與控制線路板分開，可避免因加濕管路漏水發(fā)生故障，提高安全性。
水路系統(tǒng)管路電路系統(tǒng)則采用門式開啟，方便維護和檢修。
門與箱體之間采用雙層耐高溫之高張性密封條以確保測試區(qū)的密閉。
高低溫濕熱測試箱箱體左側(cè)配直徑50mm或100mm的測試孔，可供外接測試電源線或信號線使用。(孔徑或孔數(shù)須增加定貨時說明)。
高低溫濕熱測試箱底部采用高品質(zhì)可固定式PU活動輪。高低溫濕熱測試箱設(shè)備滿足以下標準
GB/T10592-2008高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T10586-2006濕熱試驗箱技術(shù)條件
GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫
GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫
GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cab：恒定濕熱試驗
GB/T2423.4-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Db：交變濕熱（12h+12h循環(huán)）
GB/T5170.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法總則
GJB150.3A-2009軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：高溫試驗
GJB150.4A-2009軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第4部分：低溫試驗
GJB150.9A-2009軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第9部分：濕熱試驗
